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產品詳細頁
ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置

ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置

  • 產品型號:XGT-5700WR
  • 更新時間:2024-03-19
  • 產品介紹:ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置
    在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優點的基礎上,Horiba又推出用于微區分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術,可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描,也可對樣品的內部結構透視掃描,甚至還可以實現元素掃描.
  • 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339

產品介紹

ROHS/ELV/WEEE有害元素熒光X射線檢查裝置

在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優點的基礎上,Horiba又推出用于微區分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術,可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對樣品的表面進行形貌掃描,也可對樣品的內部結構透視掃描,甚至還可以實現元素掃描.

概要

應用

PCB基板的掃描為例

 

電子組件內部的異物、故障解析為例

特征

 

XGT-5700WR系列

X線照射徑

Ø3mm標準
Ø100μm或Ø10μm

一次X線濾膜

Ø3mm照射徑:4種自動切換
Ø10μm照射徑:無濾膜
Ø100μm照射徑:無濾膜

二次X線濾膜

用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標準裝備
(ON/OFF自動切換)

X線檢測器

液體氮氣冷卻3L

高純度Si檢測器

樣品形狀

不超過350×400×40mm

樣品載臺

掃描范圍:100×100mm? 200×200mm(可選)

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